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真空半导体薄膜系统

一、系统技术指标:1、真空系统:1.1、采用真空泵作为真空获得系统,由两级泵设计,分别为分子泵(中科科仪1200L/s)+干泵(8L/s瓦里安);1.2、真空度:3小时左右到达极限真空8*10-5PA(冷态);漏率小于1x10-9Torr.L/S。2、腔体(chamber):2.1、主体:壁厚8mm,材质为1Cr18Ni9Ti不锈钢,外腔净尺寸Ф500mm*600mm;2.2、腔体进行抛光处理和应
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产品描述
参数

一、系统技术指标:

1、真空系统:

1.1、采用真空泵作为真空获得系统,由两级泵设计,分别为分子泵(中科科仪1200L/s)+干泵(8L/s瓦里安);

1.2、真空度:3小时左右到达极限真空8*10-5PA(冷态);漏率小于1x10-9Torr.L/S。

2、腔体(chamber):

2.1、主体:壁厚8mm,材质为1Cr18Ni9Ti不锈钢,外腔净尺寸Ф500mm*600mm;

2.2、腔体进行抛光处理和应力处理,保证5年内真空室主体和开门无变形,无泄露;

2.3、腔体要求密封,出厂前进行检漏测试,泄露小于漏率小于1x10-9Torr.L/S方为合格;

2.4、真空室外表面带有水道(密一些),对真空室进行冷却;

2.5、真空室前门位于前方正中心,距离底部300mm,带有铰链结构,氟橡胶圈密封,靠近真空室一侧带有水道;

2.6、真空室正上方Φ50及斜上方Φ150观察窗采用CF标准观察窗,斜上方150观察窗中心线正好到达样品中心,能完全看到4英寸的样品,需要观察窗手动挡板。;

2.7、除前开门外,所有密封口均采用无氧铜金属密封。

3、 感应加热:在腔体中心有一圆盘式的感应加热元件,温度在1400-1600摄氏度(圆盘直径127mm,厚10mm), 因此腔体内部需要有反射层(抛光或者加耐高温反射涂层),外部有水冷管。感应电源接口为直径4.5英寸的标准法兰(甲方自制),乙方只做CF63的标准法兰接口,法兰中心距离腔体底部250mm;

4、设备配有手动恒压控制,采用质量流量控制器+干泵+手动闸板阀来控制真空室压力恒定;

5、常压模式通过流量控制氢气进入真空室,进气口放置在腔体顶部,设计成喷头形式;

6、真空室底部通过CF16阀门打开排放到实验室尾气回收系统;

7、设计系统具有断水报警,切断相应电源功能。

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